X射线衍射仪
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X光衍射仪(X-ray diffractometer,XRD)是利用X光衍射原理研究物质内部结构的一种大型分析仪器。令一束X光和样品交互,用生成的衍射图谱来分析物质结构。它是在X射线晶体学领域中在原子尺度范围内研究材料结构的主要仪器,也可用于研究非晶体。
原理
X光的波长和晶体内部原子面之间的间距相近,晶体可以作为X光的空间衍射光栅,即一束X射线照射到物体上时,受到物体中原子的散射,每个原子都产生散射波,这些波互相干涉,结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析衍射结果,便可获得晶体结构。以上是1912年德国物理学家劳厄提出的一个重要科学预见,随即被实验所证实。1913年,英国物理学家布拉格父子在劳厄发现的基础上,不仅成功的测定了NaCl,KCl等晶体结构,还提出了作为晶体衍射基础的著名公式——布拉格方程:2dsinθ=nλ。[1]
特征X光及其衍射X光是一种波长(0.06-20nm)很短的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X光,它具有靶中元素相对应的特定波长,称为特征X光。如铜靶对应的X光波长为0.154056 nm。对于晶体材料,当待测晶体与入射束呈不同角度时,那些满足布拉格衍射的晶面就会被检测出来,体现在XRD图谱上就是具有不同的衍射强度的衍射峰,晶粒较粗大 峰值起伏小 强度较低 而峰值强度和晶粒大小有关,微小颗粒能产生散射能力较强 。对于非晶体材料,由于其结构不存在晶体结构中原子排列的长程有序,只是在几个原子范围内存在着短程有序,故非晶体材料的XRD图谱为一些漫散射馒头峰。
构成
目前投入实际使用的衍射计主要分为以下3种:
3种衍射计的仪器结构大致相同,皆经由钼或者阳极铜X射线管产生X光,再经过单色仪及瞄准器处理,然后射向由非晶向玻璃丝所固定的晶体试样上,玻璃丝与一个精准测角仪相连,以便调整试样表面和射线之间的角度。由于X光的高能属性,试样表面的温度会逐渐升高,因此有时会使用氮气流来冷却试样。
由于反射角度依赖于晶体内部的晶层排列方式以及X射线的入射角度,打到不同晶层的X射线在理论上将会反射到所有方向上,只是在强度上有所差别。因此,为了分析出单晶试样的晶格结构和晶象参数,必须旋转试样。四环式衍射计会于四种角度上旋转,需时甚久。而另外两款则采用平板式计数器,探测器本身不需要旋转,亦可同时探测不同入射角度,速度有所提升。
外部链接
参考资料
- ^ 赵杰. 《材料科学基础》. 大连理工大学出版社. 2010年3月: 45页. ISBN 978-7-5611-5439-7.