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高加速應力測試

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高加速應力測試(HAST)的方法是由 Jeffrey E. Gunn, Sushil K. Malik 和 Purabi M. Mazumdar 首先提出,其應力測試的失效機制由CuAl和AuAl的IMC界面腐蝕和微裂紋以及誘發的電球鍵開路引起。[1]

由於85 °C/85% RH的正常測試時間為1000小時,若需要更短的測試時間,則通過HAST在 130 °C/85% RH 下進行96小時的偏壓測試。然而,在130 °C/85% RH下進行測試有時會超過模塑化合物的玻璃化轉變溫度,因此,130 °C/85% RH結果可能並不總是與85 °C/85% RH結果有很好的相關性。HAST測試有時在較低的110 °C下進行,但時間稍長,為264小時。如果在HAST測試期間觀察到失效,則會將測試溫度降至85°C/85% RH。[1]

濕度加速因子由下式計算

其中 RHs 是加速狀態相對濕度,RHo 是工作環境相對濕度,n 是一個經驗得出的常數(一般1< n <5).

溫度加速因子由下式計算

其中Ea 是活化能(電子產品通常是 0.7eV), k玻爾茲曼常數, To 是以開爾文為單位的工作溫度,Ts 是加速狀態溫度。

無偏壓高加速應力測試的總加速因子是

參考文獻

  1. Gunn, Jeffrey E., Sushil K. Malik, and Purabi M. Mazumdar. "Highly accelerated temperature and humidity stress test technique (HAST)." Reliability Physics Symposium, 1981. 19th Annual. IEEE, 1981.

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  1. ^ 1.0 1.1 Gan, Chong Leong,; Huang, Chen-Yu,. Advanced Memory and Device Packaging. Springer Series in Reliability Engineering. Cham: Springer International Publishing. 2023: 1–19. ISBN 978-3-031-26707-9.