三維熒光等高線特徵譜為對三維熒光等高線指紋圖譜進行圖像信息統計後得到的一對特徵譜(IEm和IEx),該對特徵譜既含有三維熒光光譜中熒光峰位置的信息又含有峰相對強度大小的信息,能較好地表達原始三維熒光光譜的熒光性質。將其與模式識別技術結合起來可實現對熒光物質的分類和鑑別。