銻化銦
銻化銦 | |
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識別 | |
CAS號 | 1312-41-0 |
PubChem | 3468413 |
ChemSpider | 2709929 |
SMILES |
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UN編號 | 1549 |
EINECS | 215-192-3 |
RTECS | NL1105000 |
性質 | |
化學式 | InSb |
摩爾質量 | 236.58 g·mol−1 |
外觀 | 暗灰色晶體 |
密度 | 5.775 g⋅cm−3 |
熔點 | 527 °C(800 K) |
能隙 | 0.17 eV eV |
電子遷移率 | 7.7 mC⋅s⋅g−1 (at 27 °C) |
熱導率 | 180 mW⋅K−1⋅cm−1 (at 27 °C) |
折光度n D |
4.0 |
結構 | |
晶體結構 | 立方晶系 |
空間群 | T2d-F-43m |
配位幾何 | 四面體 |
危險性 | |
GHS危險性符號 [1] | |
GHS提示詞 | WARNING |
H-術語 | H302, H332, H411 |
P-術語 | P273 |
相關物質 | |
其他陰離子 | 氮化銦 磷化銦 砷化銦 |
若非註明,所有數據均出自標準狀態(25 ℃,100 kPa)下。 |
銻化銦(InSb)是一種由銦(In)和銻(Sb)元素組成的金屬間化合物,可由銦和銻兩種單質高溫反應製得。銻化銦是一種半導體材料,廣泛應用於紅外探測器製備[2]、紅外線導引導彈制導和紅外天文學等領域。銻化銦於1951年首次被發現[3]。
參考文獻
- ^ Indium Antimonde. American Elements. [June 20, 2019]. (原始內容存檔於2021-05-07).
- ^ 《半导体材料技术》. 張玉龍等主編 杭州:浙江科學技術出版社 2010 第150頁. (原始內容存檔於2021-04-18).
- ^ Liu, T. S.; Peretti, E. A. Trans AIME, vol. 191, p. 791 (1951).