近場掃描光學顯微鏡

近場掃描光學顯微鏡 (NSOM/SNOM)是一個顯微鏡技術，用於結構調查，其利用漸逝波的特性打破遠場中繞射極限。在SNOM，激發激光光透過一個直徑小於雷射波長的孔徑聚焦，從而在孔徑的遠端產生消逝場。^[3] 當樣品在短距離地在孔徑下掃描，光學解析度只跟孔徑的直徑有關。此時，橫向分辨率可達20 納米、垂直分辨率可達2-5 納米。^[4]^[5]

如光學顯微鏡、此機制可以用於研究的不同性質，例如折射率、化學結構和侷域壓力。也可以研究在次波長解析度下的動態特性。

NSOM/SNOM是一種掃描探針顯微鏡.

參考文獻

^ (學位論文). 缺少或|title=為空 (幫助)
^ Bao, Wei; Borys, Nicholas J.; Ko, Changhyun; Suh, Joonki; Fan, Wen; Thron, Andrew; Zhang, Yingjie; Buyanin, Alexander; Zhang, Jie. Visualizing nanoscale excitonic relaxation properties of disordered edges and grain boundaries in monolayer molybdenum disulfide. Nature Communications. 2015, 6: 7993. Bibcode:2015NatCo...6E7993B. PMC 4557266 . PMID 26269394. doi:10.1038/ncomms8993.
^ Germany, WITec Wissenschaftliche Instrumente und Technologie GmbH, Ulm,. SNOM || WITec. www.witec.de. [2017-04-06]. （原始內容存檔於2021-02-28）（美國英語）.
^ Dürig, U.; et al. Near-field optical scanning microscopy. J. Appl. Phys. 1986, 59 (10): 3318. Bibcode:1986JAP....59.3318D. doi:10.1063/1.336848.
^ Oshikane, Y.; et al. Observation of nanostructure by scanning near-field optical microscope with small sphere probe. Sci. Technol. Adv. Mater. (free access). 2007, 8 (3): 181. Bibcode:2007STAdM...8..181O. doi:10.1016/j.stam.2007.02.013.

外部連結

SNOM Scan Image Gallery. [2019-02-01]. （原始內容存檔於2008-10-02）.

[Herzog11-1] (學位論文). 缺少或|title=為空 (幫助)

[r1-2] Bao, Wei; Borys, Nicholas J.; Ko, Changhyun; Suh, Joonki; Fan, Wen; Thron, Andrew; Zhang, Yingjie; Buyanin, Alexander; Zhang, Jie. Visualizing nanoscale excitonic relaxation properties of disordered edges and grain boundaries in monolayer molybdenum disulfide. Nature Communications. 2015, 6: 7993. Bibcode:2015NatCo...6E7993B. PMC 4557266 . PMID 26269394. doi:10.1038/ncomms8993.

[3] Germany, WITec Wissenschaftliche Instrumente und Technologie GmbH, Ulm,. SNOM || WITec. www.witec.de. [2017-04-06]. （原始內容存檔於2021-02-28）（美國英語）.

[4] Dürig, U.; et al. Near-field optical scanning microscopy. J. Appl. Phys. 1986, 59 (10): 3318. Bibcode:1986JAP....59.3318D. doi:10.1063/1.336848.

[5] Oshikane, Y.; et al. Observation of nanostructure by scanning near-field optical microscope with small sphere probe. Sci. Technol. Adv. Mater. (free access). 2007, 8 (3): 181. Bibcode:2007STAdM...8..181O. doi:10.1016/j.stam.2007.02.013.

[1]

[2]

[3]

[4]

[5]

閱論編掃描探針顯微鏡
常見	原子力 (非接觸模式（英語：Non-contact atomic force microscopy）) 掃描隧道	Typical atomic force microscopy set-up
其他	彈道電子發射（英語：Ballistic electron emission microscopy）化學力（英語：Chemical force microscopy）電導原子力（英語：Conductive atomic force microscopy）電化學掃描隧道（英語：Electrochemical scanning tunneling microscope）靜電力開爾文探針力磁力磁共振力（英語：Magnetic resonance force microscopy）近場掃描光學 Photothermal microspectroscopy 壓電力（英語：Piezoresponse force microscopy）掃描電容（英語：Scanning capacitance microscopy）掃描電化學掃描門（英語：Scanning gate microscopy）掃描霍爾探針（英語：Scanning Hall probe microscope）掃描離子電導（英語：Scanning ion-conductance microscopy）掃描熱（英語：Scanning thermal microscopy）自旋極化掃描隧道（英語：Spin polarized scanning tunneling microscopy）掃描電壓（英語：Scanning voltage microscopy）
應用	掃描探針光刻（英語：Scanning probe lithography） Dip-pen nanolithography Feature-oriented scanning Millipede內存
參閱	納米技術顯微鏡顯微鏡學

閱論編光學顯微鏡
顯微鏡光學顯微鏡
照明和對比方法	明場顯微鏡（英語：Bright field microscopy）科勒照明暗場顯微鏡相襯顯微技術微分干涉相差顯微鏡（DIC） Dispersion staining（英語：Dispersion staining） Second-harmonic imaging microscopy（英語：Second-harmonic imaging microscopy） 4Pi顯微鏡顯微鏡學 Sarfus（英語：Sarfus）
熒光方法	熒光顯微鏡共聚焦顯微鏡雙光子激發顯微鏡多光子顯微鏡（英語：TMultiphoton microscopy） Image deconvolution（英語：Deconvolution#Optics and other imaging）全內反射熒光顯微鏡(TIRF) Light sheet fluorescence microscopy（英語：Light sheet fluorescence microscopy）
亞衍射極限顯微技術	Diffraction-limited system（英語：Diffraction-limited system） STED microscopy（英語：STED microscopy） Photoactivated localization microscopy（英語：Photoactivated localization microscopy）近場 (NSOM/SNOM)